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    雙棱鏡光幹涉實驗儀介紹
    雙棱鏡可將一束相幹光的波前分成兩部分，形成分波麵幹涉，利用測量幹涉條紋間距(毫米量，),求得光的波長(納米量，。本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。
    功能特點：
    1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相幹性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰幹涉條紋，也為鈉光幹涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長進行比較。
    2.導軌和轉盤采用高強度，鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、**生鏽、****、手感好。
    3.帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。
    實驗目的：
    1.觀察雙棱鏡的幹涉現象。
    2.測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。
    3.觀察其他光源的雙棱鏡光幹涉現象。
    ，參數：
    導軌：長80.0cm，分度值1mm；滑塊5隻，其中1個滑塊上帶轉動裝置
    帶轉盤的狹縫：縫寬約0.04mm
    測微目鏡和支架：測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm
    光源：半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V
    鈉光燈及電源（選配）
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